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笠井 昇; 玉田 正男; 熊倉 稔
JAERI-M 89-053, 15 Pages, 1989/05
セルロース廃資源糖化試験装置により、前処理したもみがらの連続糖化の問題点、対策および連続糖化により得られるグルコース濃度について調べた。糖化において、雑菌汚染は生成したグルコースを極端に減少させるため、大きな問題であることが明らかになった。フラスコスケール(100ml)による糖化では酢酸エチルを1%添加することにより汚染を防止できた。ベンチスケール(50l)による連続糖化では酢酸エチルの添加だけでは防止できず、窒素雰囲気中で糖化することにより雑菌汚染を防止できることがわかった。最長26日間の連続糖化を行った結果、グルコース濃度1.7%の糖化液が安定して、連続的に得られることがわかった。また、連続糖化においてグルコースの生産性向上のために、適正な滞留時間の設定が重要であることが示唆された。
笠井 昇; 玉田 正男; 熊倉 稔; 嘉悦 勲
JAERI-M 87-047, 12 Pages, 1987/03
もみがらの機械的前処理をベンチスケ-ル試験装置により研究した。もみがらは大量のセルロ-ス廃資源を短時間に処理できる衝撃式粉砕機により粉砕を行なった。放射線照射を行なったもみがらの粉砕効果は粒度と糖化性について調べた。未処理もみがらの糖化における糖(グルコ-ス)収率は酵素のもみがらに対する低親和性により低かった。しかし、もみがらの粉砕処理による微粒子化のため 酵素の親和性が増大し、高い糖濃度の溶液を得た。粉砕により得られた微粒子もみがらは、高いスラリ-濃度での糖化を可能にさせる事が出来た。電子加速器による照射前処理は粉砕に要する電力を減少させ、微粒子の収率を増大させた。70Mrad以上照射したもみがらは粗粉砕するだけで高い糖度が得られた。
笠井 昇; 玉田 正男; 熊倉 稔; 嘉悦 勲
JAERI-M 86-040, 29 Pages, 1986/03
本報告は「セルロ-ス廃資源糖化試験装置」を構成する1つのユニットプロセスである「粉砕装置」についてまとめたものである。この粉砕装置は、もみがら、バガス、木粉などのセルロ-ス廃資源を連続的に小さな粒子に粉砕するためのものである。本装置の特性は、もみがらを使用して異物除去、供給、粉砕、分級、集塵、N
ガス供給の効果を調べた。もみがらの粉砕に付いては、粉砕条件を選定する事によリ効率良く250メッシュ以下の微粒子に粉砕できることが分かった。また、電子線により10M rad照射したもみがらは、未照射のものより粉砕条件の影響を受けにくく、高い糖濃度が得られる事がわかった。
